phoenix nanome|x

—— 超高分辨率的纳米焦点X射线检测系统，设计用于检测半导体及SMT行业的高品质的组件和互连 

该系统具有极佳的性能和多功能性，可用于二维X射线检测，以及全三维计算机断层扫描(nano ct)。有了新的 x|act 软件包， phoenix nanome|x是可选的系统，用以确保满足目前和未来的零缺陷要求。

特色

主要功能

• 通过卓越的双向检波器技术（数字图像链与有效的温度稳定的30帧每秒的数字探测器）获取的清晰的活动影像

• 高放大倍率

• 精确的操作

• 高度的可再现性

• 180千伏/ 15 W高功率开放纳米焦点管具有高达200纳米的细节探测能力

• 可升级到 nanoCTÒ

• 可选：

  • x|act 软件包用于方便快捷的基于CAD的高分辨率自动X射线检测(?AXI），以达到极高的缺陷覆盖率，具有高放大倍率和可再现性

  • 通过高动态温度稳定的GE DXR数字探测器与主动冷却获取的30 FPS（帧每秒）的清晰的活动检测影像

  • 10秒内的三维计算机断层扫描

  • 通过菱形|窗口以同样的高图像质量水平进行快达2倍的数据采集

  
  

顾客利益：

• 组合的二维 /三维CT操作

• 通过卓越的双向检波器技术（数字图像链与有效的温度稳定的30帧每秒的数字探测器）获取的清晰的活动影像

• 检测步骤的自动化是可能的

• 显著的易用性

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